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Guardian
SRM 표면
저항 측정기
합리적인 가격의
훠 포인트 프로브 |
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Guardian
4220 Ultra-Fine
수동형 Four Point Probe |
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 전도성 필름및 웨이퍼
...................표면저항측정
경량 휴대용
9V 배터리
작동
127
포인트 데이터 저장 능력
RS-232
interface를 이용한 데이터 전송
4 가지 모델
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Guardian-10 - 0.00 to 10.0 Ω/square.
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Guardian-100 - 0.00 to 95.00 Ω/square.
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Guardian-1000 - 0.00 to 1000.0 Ω/square.
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Guardian-2000 - 0.00 to 2000.0 Ω/square.
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고정밀 & 고해상도 4-1/2
digit LCD display
고 정밀 고 정확성
표면저항 측정용
8" 웨이퍼 이상까지
측정가능
고정확성을 요구하는 시료의 표면저항
측정 가능
유닛 내부에 전류원과 측정기가
내장되어 있습니다.1~106Ω-per-square 까지 측정합니다
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고정밀 & 고해상도 4-1/2
digit LCD display
Test- lead with
a BNC-connector 포함
1mili ohm
이하 극소 표면저항 측정용
8" 웨이퍼 이상까지
측정가능
고정확성을 요구하는 전도성 시료의
표면저항 측정 가능
유닛 내부에 전류원과 측정기가
내장되어 있습니다.
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Jandel
Four Point Probe Heads
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Superior
박막 저항 측정 웨이퍼
맵핑 시스템
(Thin Film Resistivity Wafer Mapping System) |
Jandel
수동형 Four Point Probe |
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Prometrix 와 CDE Probes
Prometrix, KLA/Tencor, CDE system. , 모든 종류의
프로브
close space probes (20 mil
spacing).
특수 Four Point Probe Head
High/Low Temperature 4 Pt Probes
Vacuum Chamber 4 Pt Probes
Square Array (Hall) 4 Pt Probes
5 Point
Probes
Close Needle Spacing Probes |
자동 스텝핑
Cassette-to-Cassette 도 가능
Windows Software
고 신뢰성
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5 가지의 프로브 유닛을 이용한 저항 테스트 유닛과 함께 사용합니다
Resistivity Test Unit (Electronics)
유닛 내부에 전류원과 측정기가 내장되어 있습니다. 1~106 Ω-per-square
까지 측정합니다
Multiposition
4 Point Probe
1mm 간격으로 8" 웨이퍼 상에서 1~9 포인트를 지정하여 측정합니다,
Multi-Height
4 Point Probe
프로브의 높이를 자동 조정하여 대형 기판이나 인고트등을 측정합니다.
일반
소형 샘플의 측정에 적당하다. 3" dia.의 웨이퍼 및 기판에 사용합니다.
3"
웨이퍼 및 기판형의 다목적용 프로브입니다.
수동 위치
4 Point Probe
수동으로 프로브를 위치 시키며 대형 평판, 인고트등에 적용합니다. |
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PN-TYPE-IT
P / N Typing Probe |
Superior
Manual Four Point Probe
(Computer Controlled Data Acquisition System) |
NSRM-12
고성능 비접촉식 표면저항 측정기 |
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신속정확하게 P,
N 타입 판정
고신뢰성을 위한 마이크로프로세서
콘트롤
0.1초내에 같은
포인트를 4번 측정
N, P, Error
표시
저가격의 교환 핀
높은 생산성
0.01 ohm 단위
측정
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Manual 타입 Four Point Probe
Computer Controlled Data Acquisition
Windows Software
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NSRM-12
고성능 비접촉식 표면저항 측정기
Gap for Sample
: 1~25mm
Range :0.5-ohm/square
~ 50 Ω/square
Serial Interface
(Connection to PC or Printer)
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40K 수동형 4 Point Probe
고정밀 & 고해상도 3
digit LCD display
비저항,
표면저항 측정용
웨이퍼 표면저항 비저항
측정가능
10milliOhm~40KOhm /square
1milli ohm ~1k ohm.cm
유닛 내부에 전류원과 측정기가
내장되어 있습니다.
데스크탑형
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PN 타입 측정기 P100SL
-용도 :웨이퍼 인고트 PN타입 측정
-방식 : 비접촉식
-측정범위: 20 mΩcm to 3000 Ωcm
-측정시간: 0.5 s
-결과 표시: LED
-측정방식 : ~10-20 mm 간격 비접촉식
- Measuring distance depends on the resistivity and surface: e.g. for 10 Ωcm material with polishedsurface ~20 mm
-배터리 작동 : 약 10,000회 |
SZ3-접촉식 P/N Type 측정기
3Point Probe 방식 P/N Type 측정기
-용도 :웨이퍼 , 실리콘 lod ,조각, PN타입 측정
-방식 : 접촉식
-측정범위: 100 mΩ.cm ~ 1000 Ω.cm
-측정시간: 1 sec
-결과 표시: P and N
-측정방식 : hand holder,
-220v ,5W |
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Four
Point Probing Information
간단한 적용 예-표면저항치, Ω-Per-Square, 저항치 및 두께의 계산
사용시 주의점 및 계산공식
Four Point Probe 이론
Four-Point Probe 매뉴얼
Tel 031-479-4211/2
Fax
031-479-4213
Email
JSi@JSiTS.com |